中文版 | English

在结果中检索

CSpace

浏览/检索结果: 共3条，第1-3条 帮助

限定条件        
已选(0)清除 条数/页：   排序方式：
采用关键路径漏电流变化分析的集成电路老化预测方法 期刊论文
计算机辅助设计与图形学学报, 2015, 卷号: 27.0, 期号: 002, 页码: 371
作者:  邱吉冰;  韩银和;  靳松;  李晓维
收藏  |  浏览/下载：5/0  |  提交时间：2023/12/04
负偏置温度不稳定性  漏电流  老化  工艺偏差  
考虑工作负载影响的电路老化预测方法 期刊论文
计算机辅助设计与图形学学报, 2010, 卷号: 000, 期号: 012, 页码: 2242
作者:  靳松;  韩银和;  李华伟;  李晓维
收藏  |  浏览/下载：5/0  |  提交时间：2023/12/04
负偏置温度不稳定性  电路老化  占空比  非线性优化  
无权访问的条目 期刊论文
作者:  胡瑜;  韩银和;  李晓维
Adobe PDF(223Kb)  |  收藏  |  浏览/下载：0/0  |  提交时间：2010/03/30