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考虑工作负载影响的电路老化预测方法 期刊论文
计算机辅助设计与图形学学报, 2010, 卷号: 000, 期号: 012, 页码: 2242
作者:  靳松;  韩银和;  李华伟;  李晓维
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负偏置温度不稳定性  电路老化  占空比  非线性优化  
龙芯3号多核处理器的低功耗测试技术 期刊论文
计算机辅助设计与图形学学报, 2010, 卷号: 000, 期号: 011, 页码: 2021
作者:  齐子初;  刘慧;  石小兵;  韩银和
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低功耗测试  微处理器测试  多核微处理器测试  基于IP的测试