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| 基于寄存器簇恢复的追踪信号选择方法 期刊论文 计算机学报, 2018, 卷号: 41.0, 期号: 010, 页码: 2318 作者: 程云; 李华伟; 王颖; 李晓维
![](/themes/default/image/downing1.png) 收藏  |  浏览/下载:5/0  |  提交时间:2023/12/04 追踪调试 追踪信号选择 状态恢复率 硅后调试 |
| 采用关键路径漏电流变化分析的集成电路老化预测方法 期刊论文 计算机辅助设计与图形学学报, 2015, 卷号: 27.0, 期号: 002, 页码: 371 作者: 邱吉冰; 韩银和; 靳松; 李晓维
![](/themes/default/image/downing1.png) 收藏  |  浏览/下载:5/0  |  提交时间:2023/12/04 负偏置温度不稳定性 漏电流 老化 工艺偏差 |
| 基于信号跳变时间可调整的容错路由器 期刊论文 同济大学学报:自然科学版, 2015, 卷号: 43.0, 期号: 002, 页码: 305 作者: 张颖; 江建慧; 李华伟; 李晓维
![](/themes/default/image/downing1.png) 收藏  |  浏览/下载:6/0  |  提交时间:2023/12/04 容错路由器 信号跳变时间可调整(STTA) 总线串扰效应 单事件翻转(SEU) 双内锁单元(DICE) |
| “存储+逻辑”3D集成电路的硅通孔可测试性设计 期刊论文 计算机辅助设计与图形学学报, 2014, 卷号: 26.0, 期号: 1.0, 页码: 146 作者: 叶靖; 郭瑞峰; 胡瑜 ; 郑武东; 黄宇; 赖李洋; 李晓维
![](/themes/default/image/downing1.png) 收藏  |  浏览/下载:6/0  |  提交时间:2023/12/04 3D集成电路 硅通孔 可测试性设计 JEDEC协议JESD229 IEEE 1149 1协议 |
| 无权访问的条目 期刊论文 作者: 付斌章; 韩银和; 李华伟; 李晓维
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| 基于输出违例概率的时延向量测试质量评估 期刊论文 电子学报, 2011, 卷号: 39.0, 期号: 005, 页码: 1031 作者: 王杰; 梁华国; 李华伟; 闵应骅; 李晓维
![](/themes/default/image/downing1.png) 收藏  |  浏览/下载:5/0  |  提交时间:2023/12/04 小时延缺陷 时延测试 冒险 测试质量评估 输出违例概率 |
| 基于非漏电脉冲耦合振荡器模型的无线传感器网络时间同步算法 期刊论文 高技术通讯, 2011, 卷号: 21.0, 期号: 011, 页码: 1142 作者: 安竹林; 徐勇军; 李晓维; 陈灿峰
![](/themes/default/image/downing1.png) 收藏  |  浏览/下载:5/0  |  提交时间:2023/12/04 无线传感器网络(WSNs) 生物同步 非漏电脉冲耦合振荡器模型 时间同步 |
| 基于SAT的快速电路时延计算 期刊论文 计算机辅助设计与图形学学报, 2011, 卷号: 23.0, 期号: 003, 页码: 480 作者: 何子键; 吕涛; 李华伟; 李晓维
![](/themes/default/image/downing1.png) 收藏  |  浏览/下载:5/0  |  提交时间:2023/12/04 可满足性 电路时延 电路展开 |
| 无权访问的条目 期刊论文 作者: 吕涛; 李华伟; 李晓维
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| 无权访问的条目 期刊论文 作者: 张磊; 韩银和; 李晓维
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