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采用关键路径漏电流变化分析的集成电路老化预测方法 期刊论文
计算机辅助设计与图形学学报, 2015, 卷号: 27.0, 期号: 002, 页码: 371
作者:  邱吉冰;  韩银和;  靳松;  李晓维
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负偏置温度不稳定性  漏电流  老化  工艺偏差  
考虑工作负载影响的电路老化预测方法 期刊论文
计算机辅助设计与图形学学报, 2010, 卷号: 000, 期号: 012, 页码: 2242
作者:  靳松;  韩银和;  李华伟;  李晓维
收藏  |  浏览/下载:5/0  |  提交时间:2023/12/04
负偏置温度不稳定性  电路老化  占空比  非线性优化  
无权访问的条目 期刊论文
作者:  雷韶华;  韩银和;  李晓维
Adobe PDF(505Kb)  |  收藏  |  浏览/下载:0/0  |  提交时间:2010/11/22
无权访问的条目 期刊论文
作者:  王伟;  韩银和;  胡瑜;  李晓维;  张佑生
Adobe PDF(417Kb)  |  收藏  |  浏览/下载:0/0  |  提交时间:2010/11/23
无权访问的条目 期刊论文
作者:  李吉;  韩银和;  李晓维
Adobe PDF(320Kb)  |  收藏  |  浏览/下载:0/0  |  提交时间:2010/11/23
无权访问的条目 期刊论文
作者:  韩银和;  李晓维
Adobe PDF(444Kb)  |  收藏  |  浏览/下载:0/0  |  提交时间:2010/11/23