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Design for Testability Features of Godson-3 Multicore Microprocessor 期刊论文
JOURNAL OF COMPUTER SCIENCE AND TECHNOLOGY, 2011, 卷号: 26, 期号: 2, 页码: 302-313
作者:  Qi, Zi-Chu;  Liu, Hui;  Li, Xiang-Ku;  Hu, Wei-Wu
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DFT (design for testability)  TAM (test access mechanism)  multicore processor  low power test  
BAT: Performance-Driven Crosstalk Mitigation Based on Bus-Grouping Asynchronous Transmission 期刊论文
IEICE TRANSACTIONS ON ELECTRONICS, 2008, 卷号: E91C, 期号: 10, 页码: 1690-1697
作者:  Yan, Guihai;  Han, Yinhe;  Li, Xiaowei;  Liu, Hui
收藏  |  浏览/下载：37/0  |  提交时间：2019/12/16
crosstalk delay  on-chip buses  bus-grouping transmission  asynchronous  shielding