中国科学院计算技术研究所机构知识库

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	I-DDT: Fundamentals and test generation 期刊论文 JOURNAL OF COMPUTER SCIENCE AND TECHNOLOGY, 2003, 卷号: 18, 期号: 3, 页码: 299-307 作者:  Kuang, JS;  You, ZQ;  Zhu, QJ;  Min, YH 收藏  |  浏览/下载：76/0  |  提交时间：2019/12/16 I-DDT testing  logical transition  hazard  stuck-open fault