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限定条件	出处：IEEE TRANSACTIONS ON VERY LARGE SCALE INTEGRATION (VLSI) SYSTEMS

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	The Cat and Mouse in Split Manufacturing 期刊论文 IEEE TRANSACTIONS ON VERY LARGE SCALE INTEGRATION (VLSI) SYSTEMS, 2018, 卷号: 26, 期号: 5, 页码: 805-817 作者:  Wang, Yujie;  Chen, Pu;  Hu, Jiang;  Li, Guofeng;  Rajendran, Jeyavijayan 收藏  |  浏览/下载：38/0  |  提交时间：2019/12/10 Hardware security  placement perturbation  split manufacturing
	X-Filling for Simultaneous Shift- and Capture-Power Reduction in At-Speed Scan-Based Testing 期刊论文 IEEE TRANSACTIONS ON VERY LARGE SCALE INTEGRATION (VLSI) SYSTEMS, 2010, 卷号: 18, 期号: 7, 页码: 1081-1092 作者:  Li, Jia;  Xu, Qiang;  Hu, Yu;  Li, Xiaowei 收藏  |  浏览/下载：38/0  |  提交时间：2019/12/16 At-speed scan-based testing  low-power testing  X-filling