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利用新型的电源屏蔽实现方法降低测试功耗 期刊论文
计算机辅助设计与图形学学报, 2010, 卷号: 000, 期号: 009, 页码: 1421
作者:  徐君
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测试功耗  电源屏蔽  可测性设计  VLSI  
无权访问的条目 期刊论文
作者:  王飞;  胡瑜;  李晓维
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无权访问的条目 期刊论文
作者:  冯子军;  肖俊华;  胡伟武
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无权访问的条目 期刊论文
作者:  黄琨;  张戈;  王君;  曾洪博
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无权访问的条目 期刊论文
作者:  李佳;  胡瑜;  李晓维;  王伟
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无权访问的条目 期刊论文
作者:  徐勇军;  韩银和;  李华伟;  李晓维
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无权访问的条目 期刊论文
作者:  陈静华;  陈迪平;  徐勇军;  张志敏;  李晓维
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无权访问的条目 期刊论文
作者:  韩银和;  李晓维
Adobe PDF(444Kb)  |  收藏  |  浏览/下载:0/0  |  提交时间:2010/11/23