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利用新型的电源屏蔽实现方法降低测试功耗 期刊论文
计算机辅助设计与图形学学报, 2010, 卷号: 000, 期号: 009, 页码: 1421
作者:  徐君
收藏  |  浏览/下载：5/0  |  提交时间：2023/12/04
测试功耗  电源屏蔽  可测性设计  VLSI