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超大规模集成电路可调试性设计综述 期刊论文
计算机研究与发展, 2012, 卷号: 49.0, 期号: 1.0, 页码: 21
作者:  钱诚;  沈海华;  陈天石;  陈云霁
收藏  |  浏览/下载：5/0  |  提交时间：2023/12/04
调试  验证  硅后验证  并行程序调试  可调试性设计