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SOC测试数据的编码压缩技术 期刊论文
微电子学与计算机, 2003, 卷号: 20.0, 期号: 002, 页码: 44
作者:  韩银和;  李晓维;  徐勇军;  蒋敬旗
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测试  编码压缩技术  SOC  哈夫曼编码  游程编码  Golomb编码  最小海明距离排序  系统集成技术  集成电路  
一种低功耗BIST测试产生器方案 期刊论文
微电子学与计算机, 2003, 卷号: 20.0, 期号: 002, 页码: 36
作者:  何蓉晖;  李晓维;  宫云战
收藏  |  浏览/下载：8/0  |  提交时间：2023/12/04
BIST  低功耗设计  内建自测试  测试产生器  线性反馈移位寄存器  集成电路