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拓扑图格独立分量分析和谱聚类支持的纹理探测
崔丽; 陈睿; 李华; 向世明; 赵国英
2005
发表期刊计算机辅助设计与图形学学报
ISSN1003-9775
卷号17.0期号:005页码:935
摘要提出的纹理探测方法首先采用拓扑图格独立分量分析(TICA)分别对每个观测纹理进行学习,获得分离基.分离基的作用相当于滤波器,并通过最大响应准则得到选择.从不同纹理选择的滤波器构成一个滤波器集;为了计算探测点的纹理特征,测试图像被分解为滤波器通道。最后,探测点被视为谱图的顶点,根据谱聚类(SC)对谱图的切分结果,递归地分离出探测点.实验结果表明,这一方法行之有效。
关键词纹理探测 拓扑图格独立分量分析 谱聚类 分离基 最大响应准则 滤波器通道
语种英语
文献类型期刊论文
条目标识符http://119.78.100.204/handle/2XEOYT63/33693
专题中国科学院计算技术研究所期刊论文_中文
作者单位中国科学院计算技术研究所
第一作者单位中国科学院计算技术研究所
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GB/T 7714
崔丽,陈睿,李华,等. 拓扑图格独立分量分析和谱聚类支持的纹理探测[J]. 计算机辅助设计与图形学学报,2005,17.0(005):935.
APA 崔丽,陈睿,李华,向世明,&赵国英.(2005).拓扑图格独立分量分析和谱聚类支持的纹理探测.计算机辅助设计与图形学学报,17.0(005),935.
MLA 崔丽,et al."拓扑图格独立分量分析和谱聚类支持的纹理探测".计算机辅助设计与图形学学报 17.0.005(2005):935.
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