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Why RTL ATPG?
Min, YG
2002-03-01
发表期刊JOURNAL OF COMPUTER SCIENCE AND TECHNOLOGY
ISSN1000-9000
卷号17期号:2页码:113-117
摘要Register Transfer Level (RTL) Automatic Test Pattern Generation (ATPG) has been of wide concern for two decades. Meanwhile gate-level ATPG has made remarkable progress in dealing with large circuits. An argument is then posed. Do we need RTL ATPG in the case of gate-level ATPG capable of generating tests for large circuits? This paper attempts to answer this question. The necessity, difficulty, and major interests of RTL ATPG are reviewed.
关键词automatic test generation (ATPG) register transfer level (RTL)
收录类别SCI
语种英语
WOS研究方向Computer Science
WOS类目Computer Science, Hardware & Architecture ; Computer Science, Software Engineering
WOS记录号WOS:000174736600001
出版者SCIENCE PRESS
引用统计
被引频次:1[WOS]   [WOS记录]     [WOS相关记录]
文献类型期刊论文
条目标识符http://119.78.100.204/handle/2XEOYT63/13569
专题中国科学院计算技术研究所期刊论文_英文
通讯作者Min, YG
作者单位Chinese Acad Sci, Comp Technol Inst, Beijing 100080, Peoples R China
推荐引用方式
GB/T 7714
Min, YG. Why RTL ATPG?[J]. JOURNAL OF COMPUTER SCIENCE AND TECHNOLOGY,2002,17(2):113-117.
APA Min, YG.(2002).Why RTL ATPG?.JOURNAL OF COMPUTER SCIENCE AND TECHNOLOGY,17(2),113-117.
MLA Min, YG."Why RTL ATPG?".JOURNAL OF COMPUTER SCIENCE AND TECHNOLOGY 17.2(2002):113-117.
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